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【展会风采】长光辰谱携紫外光学元件首次亮相无锡半导体展！
2025-09-05
2025年9月4日，在无锡半导体展会的A6-526展位上，长光辰谱虽标展亮相，却凝聚着紫外光学技术的创新力量。首次参展，也是对半导体领域的开疆拓土，此次重点展出的高性能紫外光学元件—滤光片产品，正是针对半导体领域精密检测与制造需求推出的核心产品。
专注紫外，精准突破
长光辰谱深耕紫外光学技术，本次展出的紫外滤光片具有以下特性：
高透过率与高截止深度：在紫外波段实现优异的光学性能，有效提取目标信号；
抗激光损伤能力强：可适用于高功率紫外激光环境，保障设备稳定运行；
环境稳定性优异：在复杂工况下仍保持性能可靠，延长使用寿命。
该产品可广泛应用于半导体缺陷检测、光刻机辅助校准、晶圆表面分析等关键环节，为半导体制造提供“锐利之眼”。
虽初次以标准展位参与半导体行业盛会，长光辰谱却怀揣着拓展技术边界的决心。我们希望通过本次展会，与半导体行业伙伴建立连接，共同探索紫外光学技术在更多场景下的创新应用——从微观检测到工艺优化，为行业注入新的技术动力。
展会现场，我们为您准备了产品样片与技术资料，欢迎各位同行、客户朋友莅临A6-526展位交流洽谈，期待与您碰撞出合作火花！
长光辰谱是一家集光学薄膜研制、新型光谱仪器研发、光谱图像处理与应用于一体的高新技术企业。
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